钨灯丝扫描电子显微镜SU3500（SEM）

1.仪器设备简介

仪器设备型号：日立SU3500

产地：日本

购置时间：2016年8月

主要技术指标：

二次电子分辨率：3nm（30kv） 7.0nm（3kv）

背散射电子分辨率：4.0nm（30kv） 10.0nm（5kv）

放大倍数：5x ~ 300000x（与样品有关，常规样品20-50000倍）

加速电压：300v~30kv

主要功能：

观测块状金属（不包括磁性材料）、非金属固体材料、纤维、薄膜的表面或断面的微区形貌；该仪器配有二次电子（SE）和背散射电子（BSE）等不同类型探测器可供选择使用，可对各种材料进行高倍观察。

应用领域：

广泛应用于各种材料（陶瓷、半导体、催化剂、地质矿物、高分子和复合材料等）的微观形貌表征。

2.测试项目

① 材料表面结构分析：块状金属、非金属固体材料、纤维、薄膜的表面或断面微区的形貌；

② 微粒或纤维形状的观察及尺寸分析；

③ 纳米材料粒径测试和形貌观察。

3.送样要求

① 干燥的固体样品；

② 无磁性、无挥发性、无腐蚀性、无放射性、无毒性、无传染性等对设备和人员产生损害的样品。

上述①②两项必须同时具备，方可测试。

4.收费标准

①一般样品（二次电子，背散射电子像分析）：400元/小时；或300元/样（不超过30min），

②样品制备：镀金，200元/次（不论样品个数）。

折扣标准按学院分析测试中心统一要求。

5.联系方式

联系人：公老师 （18971675398）

存放地点：能源与环境材料实验室（学海楼317）

开放时间：周一至周五工作日上班时间