透射电子显微镜(TEM)

1.仪器设备简介

型号：Philips CM12 TEM/STEM

出厂日期：1987年9月

国别厂家：荷兰Philips

价格：1487150.64元

性能指标：

加速电压：120KV

点分辨率：0.34nm

线分辨率：0.20nm

放大倍数：31×~ 820,000×

制样设备：

Gatan 656型凹坑仪

Gatan 600型离子减薄仪

JEOL JEE-4 X型真空镀膜仪

主要附件：

EDAX  PV9100  X射线能谱仪

Gatan 830型CCD图像系统，可以拍摄数字化图像及电子衍射花样。

适用范围：可以对各种固体样品进行微区形貌、微区结构及微区成分分析研究。如超显微包体、出溶体等物相鉴定，晶胞参数、点群及空间群测定，晶体形态、粒度、界面及缺陷观察等。在材料科学、矿物学、岩石学、矿床学、构造地质学及生物医学等领域都有广泛的应用。

存放地点： 国家重点实验室大楼110。

联系人：刘祥文，15327375231

2.测试项目

固体物质微区形貌、微区成分及选区电子衍射分析。

3.送样要求

（1）           粉末样品粒度最好在微米量级至纳米量级。

（2）           如果是预先分散好的样品，本实验室不对制样的质量负责，重复制样需要按次数收取制样费。相应的机时费也不能减免。

（3）           如果因为样品粒度太大导致测试无结果，需要收取制样费和1小时的起步机时费。

（4）           因为磁性粉末样品极容易被吸附到物镜极靴上，损害电镜的图像分辨率，所以原则上谢绝测试磁性粉末样品。对于少量确实急需测试的磁性粉末样品，需报请仪器负责人批准后方可测试，并按特殊标准收费。

（5）           磁性粉末样品不得冒充非磁性粉末样品进行测试，一旦发现将按磁性样品标准的2倍收取测试费。

（6）           送样人自己事先制备的“非磁性”透射电镜粉末样品，必要时需要加收分析确认费用（如X射线能谱分析及电子衍射物相分析费用）。

（7）           由于离子减薄制样费工费时，且制样成功率受多种因素影响，尤其是一些样品本身的因素，如硬度太大、太脆导致磨样、裁样及凹坑等过程中极易产生大量可见和不可见的裂纹，从而导致离子减薄制样失败，需要重新制备。失败样品的损失，送样人和本实验室各承担50%。

4.收费标准

（1）       形貌观察：550元/小时。①、不足1小时按1小时计费；②、超过1小时，按0.5小时递增收费；③、粉末样额外收取50元/样。

（2）       粉末样或纳米材料：300元/样。①、每样30分钟以上，则按时间收费；②、如果只做一个样品，则需按时间收费。

（3）       磁性粉末样品：1000元/样。①、限照相20张以内，且30分钟以内；②、30分钟以上按250元/0.5小时加收机时费。

（4）       能谱成分分析：每点加收60元。

（5）       电子衍射拍照：每张加收80元。

（6）       粉末样品制备：50元/样。

（7）       凹坑减薄：①、硬度£7的样品由标准厚度30mm凹坑至10mm：80元/样；②、硬度£7的非标准厚度样品：（1+（厚度-30）÷40）×80元/样；③、硬度>7的非标准厚度样品：（1+（厚度-30）÷40）×（硬度-6）×80元/样；④、原则上不接收厚度100mm以上的样品。

（8）       离子减薄：80元/小时。

（9）       喷碳：200元/次。

（10）   测试结果光盘刻录：10元/张。

（11）   电子衍射图测量：50元/张（单晶花样给出d₁、d₂、d₃及其夹角；多晶花样给出各衍射环对应的晶面间距d）

（12）   电子衍射指标化分析：面议。